Alles-zu-eent opteschen Atomic Force Mikroskop


  • Betriebsmodus:Touch Modus, Tap Modus
  • XY Scan Beräich:50*50um, fakultativ 20*20um, 100*100um
  • Z Scan Beräich:5um, fakultativ 2um, 10um
  • Sample Gréisst:Φ≤68mm, H≤20mm
  • Beispill Etapp Rees:25 * 25 mm
  • Optesch Okular:10 x
  • Spezifizéierung

    1.Integrated Design vun opteschen metallographic Mikroskop an atomarer Kraaft Mikroskop, mächteg Funktiounen

    2.It huet souwuel optesch Mikroskop an Atomkraaftmikroskop Imaging Funktiounen, déi allebéid gläichzäiteg funktionnéieren ouni sech géigesäiteg ze beaflossen

    3.Zur selwechter Zäit huet et d'Funktioune vun der optescher zweedimensionaler Messung an der Atomkraaftmikroskop dreidimensionaler Messung

    4. De Laser-Erkennungskopf an d'Probe-Scannen-Bühn sinn integréiert, d'Struktur ass ganz stabil, an d'Anti-Interferenz ass staark

    5. Präzisioun Sonde Positionéierungsapparat, Laser Fleck Ausrichtung Upassung ass ganz einfach

    6. D'Single-Achs Drive Probe kënnt automatesch op d'Sonde vertikal, sou datt den Tipp vun der Nadel senkrecht op d'Probe gescannt gëtt

    7. Déi intelligent Nadelfütterungsmethod vun der motorkontrolléierter presséierter piezoelektrescher Keramik automatesch Detektioun schützt d'Sond an d'Probe

    8. Ultra-héich Vergréisserung opteschen Positionéierungssystem fir präzis Positionéierung vun der Sonde a Probe Scannengebitt z'erreechen

    9. Integréiert Scanner net-linear Korrektur Benotzer Editor, Nanometer Charakteriséierung a Miessgenauegkeet besser wéi 98%

    Spezifikatioune:

    Operatiounsmodus Touch Modus, Tap Modus
    Optional Modus Reiwung / Lateral Kraaft, Amplitude / Phase, Magnéitfeld / Elektrostatesch Kraaft
    Kraaftspektrumkurve FZ Kraaftkurve, RMS-Z Kurve
    XY Scan Beräich 50*50um, fakultativ 20*20um, 100*100um
    Z Scan Beräich 5um, fakultativ 2um, 10um
    Scan Resolutioun Horizontal 0.2nm, Vertikal 0.05nm
    Prouf Gréisst Φ≤68mm, H≤20mm
    Prouf Etapp Rees 25 * 25 mm
    Optesch Okular 10 x
    Optesch Objektiv 5X / 10X / 20X / 50X Plan Apochromatesch Ziler
    Beliichtung Method LE Kohler Beliichtung System
    Optesch konzentréieren Rau manuell Fokus
    Kamera 5MP CMOS Sensor
    affichéieren 10,1 Zoll flaach Panel Display mat grafesch Zesummenhang Miessfunktioun
    Scan Vitesse 0.6Hz-30Hz
    Scan Wénkel 0-360°
    Betribssystemer Ëmfeld Windows XP/7/8/10 Betribssystem
    Kommunikatioun Interface USB 2.0/3.0

     微信图片_20220420163544_副本


  • virdrun:
  • Nächste:

  • Schreift Äre Message hei a schéckt en un eis