1.Itated Design vun optesche Metalgoografesche Mikroskop an Atombauer Microskop, mächteg Funktiounen
2.Ech huet souwuel optesch Mikroskop an Atomkraaft Microskope virstellt Funktiounen, souwuel déi gläichzäiteg schaffen ouni sech ze maachen
3.at déiselwecht Zäit, et huet d'Funktiounen vun opdescher zweedimensionalen Messung an Atomkraaft Microskope dräi-zweedimensionalmoossnamen
4. De Laser Detter ass Kapp an de Probencomaning Etikett ass integréiert, d'Struktur ganz stabil ass, an déi anti-Interferenz ass staark
5. Präzisatiounspositiounspositiounsapparat, Laser Plaz Ausrichtung Ajustéierung ass ganz einfach
6. Déi eenzeg Achs Drive Proufe passend automatesch de Sond vertikal, sou datt den Tipp vum Nadel scoled scoled op de Probe
7. Déi intelligent Bedierfnesser vun der motorescher kontrolléierter presséierter piezorcterer Keramiker Automatesch Detection schützt de Sonde an der Probe
8. Ultra-héich Vergréisserung optesch Positiounssystem fir präzis Positionéierung vun der Sonde an Proben Scaning Regioun ze erreechen
9. Integréiert Scanner nonlinear Korrektioun Benotzer Editeur, Nanometer Charakteriséierung a Messung Genauegkeet besser wéi 98%
Spezifikatioune:
Betrement Modus | Touch Mode, Tap Mode |
FEDert de fositiounsbicht | Reibung / Lateral Kraaft, Amplitude / Phas, magnetesch / elektrostatesch Kraaft |
forcéieren Spektrum Curve | Fz Force Curve, RMS-Z Curve |
Xy Scan Gamme | 50 * 50um, fakultativ 20 * 20 Auer 100 * 100um |
Z Scan Ralette | 5um, fakultativ 2um, 10um |
Sankt Léis | Horizontal 0.2nm, vertikal 0,05nm |
Proufgrouss | Φ**68mm, H≤20mm |
Probe Stage Rees | 25 * 25mm |
Optesch Äddi | 10x |
Optesch Zil | 5x / 10x / 20x / 50x plangen Apolitesch Ziler |
Beliichtungsmethod | L kohler Liichtverschmotzung |
Optesch Fokus | Rau manuell Fokus |
Kamera | 5mp cmos Sensor |
Füügt dodeld | 10.1 Zoll flaach Panel Display mat Grafikfäegkeet Funktioun |
Scort-Speed | 0.6hz-30hz |
Scan Wénkel | 0-360 ° |
Verbroen | Windows XP / 7/8/10 Betribssystem |
Kommunikatioun Interface | USB2.0 / 3.0 |