1.The Laser Detektioun Kapp an der Prouf Scanner Etapp sinn integréiert, d'Struktur ass ganz stabil, an der Anti-Interferenz ass staark
2.Precision Sonde Positionéierungsapparat, Laser Spot Ausrichtung Upassung ass ganz einfach
3.Single-Achs Drive Probe kënnt automatesch op d'Sonde vertikal, sou datt d'Nadel tip senkrecht zum Probe Scan ass
4.D'intelligent Nadelfütterungsmethod vu motorkontrolléierter Drock piezoelektrescher Keramik automatesch Detektioun schützt d'Sond an d'Probe
5.Automatesch optesch Positionéierung, kee Besoin fir ze fokusséieren, Echtzäitobservatioun a Positionéierung vum Sondeprobe Scannengebitt
6.Spring Suspension Schockproof Method, einfach a praktesch, gutt Schockproof Effekt
7.Metal geschützt Schalldicht Box, agebaute High-Präzisioun Temperatur a Fiichtegkeet Sensor, Echtzäit Iwwerwaachung vum Aarbechtsëmfeld
8.Integréiert Scanner net-linear Korrektur Benotzer Editor, Nanometer Charakteriséierung a Miessgenauegkeet besser wéi 98%
| Operatiounsmodus | Touch Modus, Tap Modus |
| Optional Modus | Reiwung / Lateral Kraaft, Amplitude / Phase, Magnéitfeld / Elektrostatesch Kraaft |
| Kraaftspektrumkurve | FZ Kraaftkurve, RMS-Z Kurve |
| XY Scan Beräich | 20*20um, fakultativ 50*50um, 100*100um |
| Z Scan Beräich | 2.5um, fakultativ 5um, 10um |
| Scan Resolutioun | Horizontal 0.2nm, Vertikal 0.05nm |
| Prouf Gréisst | Φ≤90mm, H≤20mm |
| Prouf Etapp Rees | 15 * 15 mm |
| Optesch Observatioun | 4X optesch Objektiv / 2.5um Opléisung |
| Scan Vitesse | 0.6Hz-30Hz |
| Scan Wénkel | 0-360° |
| Betribssystemer Ëmfeld | Windows XP/7/8/10 Betribssystem |
| Kommunikatioun Interface | USB 2.0/3.0 |
| Schock-absorbéierend Design | Fréijoer Suspendéiert / Metal Shielded Box |
