China FCM2000W Computer Typ Metallographic Microscope Fabréck an Producteure |Chengyu

FCM2000W Computer Typ Metallographic Microscope Ausgezeechent Bild

FCM2000W Computer Typ Metallographic Mikroskop

Spezifizéierung

FCM2000W Aféierung

FCM2000W Computer Typ metallographic microscope ass en trinocular inverted metallographic microscope, déi benotzt gëtt der kombinéiert Struktur vun verschiddenen Metaller an durchgang Material ze identifizéieren an analyséieren.Et ass wäit an Fabriken oder Laboratoiren benotzt fir Goss Qualitéit Identifikatioun, Matière première Inspektioun oder no Material Veraarbechtung.Metallographic Struktur Analyse, a Fuerschung Aarbecht op e puer Uewerfläch Phänomener wéi Uewerfläch sprëtzen;metallographic Analyse vun Stol, Net-ferro Metal Materialien, castings, coatings, petrographic Analyse vun Geologie, a mikroskopesch Analyse vun Verbindungen, Keramik, etc.. am industrielle Beräich effektiv Mëttel vun Fuerschung.

Konzentréieren Mechanismus

Déi ënnescht Hand Positioun grober a feinstëmmend koaxial Fokusmechanismus gëtt ugeholl, deen op der lénker a rietser Säit ugepasst ka ginn, d'Feinjustéierungspräzisioun ass héich, d'manuell Upassung ass einfach a praktesch, an de Benotzer kann einfach eng kloer kréien a komfortabel Bild.De grober Upassungsschlag ass 38mm, an d'Feinjustéierungsgenauegkeet ass 0,002.

Mechanesch mobil Plattform

Et adoptéiert eng grouss Skala Plattform vun 180 × 155mm an ass an der rietser Positioun gesat, déi am Aklang mat der Operatioun Gewunnechten vun gewéinlech Leit ass.Wärend der Operatioun vum Benotzer ass et bequem tëscht dem Fokusmechanismus an der Plattformbewegung ze wiesselen, wat d'Benotzer e méi effizient Aarbechtsëmfeld ubitt.

Beliichtung System

Epi-Typ Kola Beliichtungssystem mat variabelen Apertur Blend an Zentrum justierbar Feld Blend, adoptéiert adaptiv Breetspannung 100V-240V, 5W héich Hellegkeet, laang Liewensdauer LED Beliichtung.

FCM2000W Configuratioun Dësch

Configuratioun		Modell
Artikel	Spezifizéierung	FCM 2000W
Optesch System	Finite Aberration opteschen System	·
Beobachtungsröhre	45° Neigung, Trinokulär Beobachtungsröhr, Interpupillär Distanzjustéierungsberäich: 54-75 mm, Strahlsplitverhältnis: 80:20	·
okular	Héich Aen Punkt grouss Feld Plang Okular PL10X / 18mm	·
	Héich Aen Punkt grouss Feld Plang Okular PL10X / 18mm, mat micrometer	O
	Héich Auge Punkt grousst Feld Okular WF15X/13mm, mat Mikrometer	O
	Héich Auge Punkt grousst Feld Okular WF20X/10mm, mat Mikrometer	O
Ziler (Long Throw Plan Achromatesch Ziler)	LMPL5X /0.125 WD15.5mm	·
	LMPL10X/0.25 WD8.7mm	·
	LMPL20X/0.40 WD8.8mm	·
	LMPL50X/0.60 WD5.1mm	·
	LMPL100X/0.80 WD2.00mm	O
converter	Interne positionéieren véier-Lach Converter	·
converter	Intern positionéieren fënnef-Lach Converter	O
Konzentréieren Mechanismus	Koaxial Fokusmechanismus fir grëndlech a fein Upassung an der niddereger Handpositioun, de Schlag pro Revolutioun vu grober Bewegung ass 38 mm;d'Feinjustéierungsgenauegkeet ass 0,02 mm	·
Etapp	Dräi-Schicht mechanesch mobil Plattform, Fläch 180mmX155mm, riets niddereg Handkontroll, Schlag: 75mm × 40mm	·
Aarbecht Dësch	Metall Bühnplack (Zentrum Loch Φ12mm)	·
Epi-Beliichtungssystem	Epi-Typ Kola Beliichtungssystem, mat variabelen Aperturblend an zentral verstellbar Feldmembran, adaptiv Breetspannung 100V-240V, eenzeg 5W waarm Faarf LED Liicht, Liichtintensitéit kontinuéierlech justierbar	·
Epi-Beliichtungssystem	Epi-Typ Kola Beliichtungssystem, mat variabelen Aperturmembran an zentral verstellbar Feldmembran, adaptiv Breetspannung 100V-240V, 6V30W Halogenlampe, Liichtintensitéit kontinuéierlech justierbar	O
Polariséierend Accessoiren	Polarisatorboard, fix Analyser Board, 360 ° rotéierend Analyser Board	O
Faarf Filter	Giel, gréng, blo, frostéiert Filteren	·
Metallographic Analyse System	JX2016 Metallographesch Analyse Software, 3 Millioune Kameraapparat, 0.5X Adapter Lens Interface, Mikrometer	·
Computer	HP Business Jet	O

Note:"· "Standard"O"fakultativ

JX2016 Software

De "professionnelle quantitative metallographesche Bildanalyse-Computerbetriebssystem" konfiguréiert vun de metallographesche Bildanalysesystemprozesser an Echtzäitvergleich, Detektioun, Bewäertung, Analyse, Statistiken an Ausgangsgrafikberichter vun de gesammelten Probekaarten.D'Software integréiert haut d'fortgeschratt Bildanalysetechnologie, déi déi perfekt Kombinatioun vum metallographesche Mikroskop an intelligenter Analysetechnologie ass.DL/DJ/ASTM, etc.).De System huet all Chinesesch Interfaces, déi präzis, kloer an einfach ze bedreiwen sinn.No engem einfachen Training oder Referenz op d'Instruktiounshandbuch, kënnt Dir et fräi benotzen.An et bitt eng séier Method fir metallographesch gesonde Mënscheverstand ze léieren an Operatiounen ze populariséieren.

JX2016 Software Funktiounen

Bildbeaarbechtungssoftware: méi wéi zéng Funktiounen wéi Bildacquisitioun a Bildlagerung;

Bild Software: méi wéi zéng Funktiounen wéi Bild Verbesserung, Bild Iwwerlagerung, etc .;

Bildmiessungssoftware: Dosende vu Miessfunktiounen wéi Perimeter, Gebitt a Prozentsaz Inhalt;

Ausgangsmodus: Datentabellausgang, Histogrammausgang, Bilddruckausgang.

Engagéiert metallographesch Software Packagen:

Korngréisstmiessung a Bewäertung (Korngrenzextraktioun, Getreidegrenzrekonstruktioun, Single Phase, Dual Phase, Korngréisst Messung, Bewäertung);

Messung an Bewäertung vun net-metalleschen Inklusiounen (inklusiv Sulfiden, Oxiden, Silikaten, asw.);

Pearlite a Ferrit Inhalt Miessung a Bewäertung;ductile Eisen GRAPHITE Nodularitéit Miessung a Bewäertung;

Decarburization Layer, carburized Layer Miessung, Uewerfläch Beschichtung Dicke Miessung;

Weld Déift Miessung;

Phase-Beräich Miessung vun ferritic an austenitic STAINLESS Stol;

Analyse vum primäre Silizium an eutektesche Silizium aus héich Silizium Aluminiumlegierung;

Titan Legierung Material Analyse ... etc;

Enthält metallographesch Atlase vu bal 600 allgemeng benotzt Metallmaterialien zum Verglach, entspriechend den Ufuerderunge vun de meeschte Eenheeten fir metallographesch Analyse an Inspektioun;

Am Hibléck vun der kontinuéierlecher Erhéijung vun neie Materialien an importéiert Grad Materialien, Materialien an Evaluatiounsnormen, déi net an der Software agefouert goufen, kënne personaliséiert a aginn.