Fcm2000w Aféierung
FCM2000w Computer Type Metalfrahagesch Mikroskop ass eng Trinstoffall invertéiert Metrospooskoper, wat benotzt gëtt benotzt fir déi kombinéiert Metalle a Leidenmaterial ze identifizéieren. Et gëtt wäit an Fabriken oder Laboratoren benotzt fir Qualitéit Identifikatioun ze beandroffen, réi Matspréngung oder no der Matière Veraarbechtung. Metristografesche Strukturalyse, a Fuerschung Aarbecht op enger kuerzer Uewerflächephomena wéi Uewerflächesprayung; Natierlech mussen d'Metolfografitéit vu Blaze ginn, Found a Ferregenmaterial, Aarbechten, Petroduktioun vun Geëschungen. Fuerken et. Fuergeregkeet vun der Crombonstänn.
Fokus Mechanismus
Déi ënnen Hand Positioun grockes a gutt Tun iwwerfokerokielle Mechiscisanismus gëtt adoptéiert, déi op der klenger Säiten verbraucht sinn, déi kierperlech Verkassung, déi hieren Persoun Präfung, déi entspriechend Verpflichtung ass einfach ze bekloen, déi Handuelle Präten sinn einfach e Kuelen ze kréien. a komfortabel Bild. De grousst Upassung Schlag ass 38mm, an déi fein Upassung Genauegkeet ass 0,002.

Mechanesch Mobile Plattform
Et huet eng grouss Skala Plattform 180 gewellt oder der rietser Positioun an der rietser Säit uginn, dat ass an der Operatioun vu gewéngten Opstand vu gewéngtent Leit. An der Demande ass et erschlechtent sech transkéierend Mankanismus an d'Plattformioun, wou d'Benotzer mat engem méi effizient Aarbechtsand- ofgeschalt.

Lighting System
EPI-Typ Kola Luuchte System mat Variabel Ouverture Mittalygrag an Center Consable Casphragm, Adapats Adaptiven Upassung vun 100V-24V-24

Fcm2000w Konfiguratioun Dësch
Konfiguratioun | Model | |
Artikel iwwert d'Säit | Spezifizéierung | Fcm2000w |
Optesch System | Finite aberration optical System | · |
Observatioun Réier | 45 ° Kipp, trinokulär Observatioun Réier, interpupréierend Distanz Upassungsberäich: 54-75mm, stellt Verhältnis: 20 | · |
Okular | Héije Auge Point grouss Feldplang fir EXUPE PL10X / 18mm | · |
High Ae Point grousse Feldplangodepure pl10x / 18mm, mat Mikrometer | O | |
Héije Auge Point grouss Feld fir WF15X / 13mm, mat Mikrometer | O | |
Héije Auge Point grouss Feldodepure wf20x / 10mm, mat Mikrometer | O | |
Ziler (laang werfen plangen handelen Ziler)
| LMPL5X /0,125 WD15.5mm | · |
Lmpl10x / 0,25 wd8.7mm | · | |
Lmpl2xx / 0,40 wd8.8mm | · | |
LMPL50X / 0,60 WD5.1mm | · | |
LMPL100X / 0,80 WD2,00M | O | |
Converter | Intern Positioun vu véier-Lach Converter | · |
Intern Positioun fënnef-Lach Converter | O | |
Fokus Mechanismus | VerfÜgung vukulative Mechisismus fir hu sech a grondeliewen a gutt Upassung bei der selwechter Handlung, de Verfollegungsgank vun groberer Alternatioun ass dovun; Déi fein Upassung Genauegkeet ass 0,02 mm | · |
D'Bühn | Dräi-Layer Mechanesch Mobile Plattform, Regioun 180mmx1553M, Riets-Handkontroll, Schlag: 75mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm × 40mm ug ass | · |
Aarbecht Tabelle | Metal Stage Plate (Center Lach φ12mm) | · |
EPI-Luuchung System | EPI-Typ Klala Liquanting System, mat verännerleche Aterture Mittel Mittabragm an Zentrum Camitable Feld Membran, adäquatikin | · |
EPI-Typ Kola Saultitioun System, mat verännerleche Atperture Membrabra a Center Contactable Feld Membran, Upassung, 6V30v, 6V30v-242 240 | O | |
Polarizing Accessoiren | Polarizer Board, fix Analyse Board, 360 ° rotéieren an analysen Boger | O |
Faarfsfilter | Giel, gréng, blo, frespsed Filters | · |
Metallografesche Analyse System | JX2016 Metalografesch Analyse Software, 3 Millioun Kamera Gerät, 0,5x Adapter Lens Interface, | · |
Computer | HP Business Jet | O |
Notegéieren: "· "Standard;"O"Fakultativ
JX2016 Software
De "professionellte méigleche Probenatloseschwaggeld. D'Software integréiert haut ass fortgeschratt Bild Analysentechnologie, wat ass déi perfekt Kombinatioun vu Metallographic Mikroskopologie an Intelligologie. DL / DJ / ASTM, etc.). De System huet all Chinesesch Interafruppen, wéi kämpfe kloer an einfach ze bedrohten. No einfachen Training oder bezitt sech op d'Instruktiounshandal, Dir kënnt et fräi bedreiwen. An et bitt eng séier Method fir ze léieren Metalographie gesonde Mënscheverstand a populärer Operatiounen.

Jx2016 Software Funktiounen
Bild Ännerung Software: Méi wéi zéng Funktiounen wéi Image Acquisitioun a Bildlagerung;
Image Software: Méi wéi zéng Funktiounen wéi Bildverlängerung, Bild Iwwerlagerung, etc .;
Bildmiessungs Software: Dosende vu Messagen Funktiounen wéi Perimeter, Regioun, a Prozentsaz Inhalt;
Output Modus: Daten Table Output, Histogram Ausgang, Bild Printput.
Engagéiert Metallographesch Software Packagen:
Grafgréisstmiessung a Bewäertung (Griewer Grenz Extraktioun, grain Grenzkräuschung, eenzeg Phas, Dual Phas, Kaddréchmiessung)
Miess a Bewäertung vun net metallen Inklusiounen (inklusiv silfides, oxides, sektizéiert, asw.);
Pearpite an Ferrit Inhaltsmiessung a Bewäertung; ductile Iron Grafit Nodularitéitsmiessung a Bewäertung;
Decarburriktiséierungsschicht, carburiséiert Schichtmiessung, Uewerfläch Beschichtung Déckerung;
Weld Déiftmiessung;
Phas-Regioun Messung vun der fersteritescher Edelsteng;
Analyse vum primäre Silicon an eutktesche Silizon vu héije Silicon Aluminium Locary;
Titan Allovery Material Analyse ... etc;
Enthält Metalografesch Atlasen vu bal 600 allgemeng benotzt Metallmaterialien fir Verglach, d'Ufuerderunge vun de meeschte Eenheeten fir Metalographesch Animografiker an Inspektioun ze treffen;
Wann d'weider Erhéijung vun neie Produkter ausgewielt sinn, Material a gewëllt net opginn, déi an der Softwaren organiséieren gesinn an der Softwaren déi Iech aginn, kënnen an d'Softwaren am Softwarder ginn.
JX2016 Software applicabel Windows Versioun
Gewannen 7 professionnell, ultimativen gewannen 10 professionnell, ultimativ
JX2016 Software Operatiounsstuf

1. Modul Auswiel; 2. Hardware Parameter Auswiel; 3. Bild Acquisitioun; 4. Feld vu View Auswiel; 5. Bewäertungsniveau; 6. Generéiere Bericht
FCMM2000W Konfiguratioun Diagramm

Fcm2000w Gréisst
