China 4xc-w Microcomputer Metalographesch Mikroskopfabréck an Hiersteller

4xc-w Microcomputer Metalfrahagesch Mikroskope virgesi Bild

4xc-w Microcomputer Metalographesch Mikroskope

Spezifizéierung

4xc-w Computer bedallografesch Mikroskops Iwwersiicht

4xc-w Computer metallural Mikroskop ass eng Trinstuléierungsmetallurgesch Mikroskop, equipéiert, equipéiert mat engem exzellenten laange Längsplangtime aachte Siicht an e grousst Länn. De Produit gëtt an der Struktur, bequem a bequem ze bedreiwen. Et ass gräicht fir Mikroskopesch Beobachtervatioun vu Metolographic-a enger Uewerfalt Instrument fir Metalolologie, a Privatragologie, Humerologie, a Veraarbechtung.

Observatiounssystem

Hënnescht Observatioun Réier: Binokular Observatioun Réier, Upassbar Single Singie, 30 ° Kipp vun der Lens Komfort, gemittlech a schéin. TRINULLUKTIOUN VILLING RUBUE, DAT KËNNTEN DEM KAME COLLTAACHEN. Okular: WF10x grouss Feldplang Okular, mat engem Feldsportioun vun φ18mm, bitt eng breet Observatiounssport.

Mechanesch Bühn

Déi mechanesch Grafik bewonnentend Bühn huet eng agebaute kreesfërmeg Circuladar State, an d'Circular Etapp ass de Moment vu polariséierte Liichtmixkopie.

Lighting System

Mat der Kola Olluminatioun Method sollt de At3rragm an de Feldkreag am Feld benotzt ginn, an déi seigenz. De fakultativen Polarisator kann d'Polariséierung vun 90 ° POLITIK unzepassen fir mikroskopesch Biller ënner verschiddene Polarisatiounen ze observéieren.

Spezifizéierung

Spezifizéierung		Model
Artikel iwwert d'Säit	ICONDA	4xc-w
Optesch System	Endlech Aberratiounskorrektioun optesch System	·
Observatioun Réier	Hined binokular Rouer, 30 ° Kipp; trinokulär Tube, upasstbar interpupär Distanz an Diöpter.	·
Okular (grouss Feld vu Vue)	WF10x (φ18mm)	·
	WF16x (φ11mm)	O
	WF10X (φ18mm) mat Kräiz Divisioun Lineal	O
Standard objektiv Objektiv(Laang werft plangen handelen Ziler)	Pl l 10x / 0,25 wd8,90mm	·
	Pl l 20x / 0,40 wd3.75mm	·
	Pl l 40x / 0,65 wd2.69mm	·
	Sp 100x / 0,90 wd0.44mm	·
Fakultativ objektiv Objektiv(Laang werft plangen handelen Ziler)	Pl l50x / 0,70 wd2.02mm	O
	Pl l 60x / 0.75 wd1.34mm	O
	Pls l 80X / 0,80 WD0.96mm	O
	Pl l 100x / 0,85 wd0.4mm	O
Converter	Kugel innerhalb Positioun vu véier-Lach Converter	·
Converter	Kugel innerhalb Positioun fënnef-Lach Converter	O
Fokus Mechanismus	Coaxial Fokus Upassung duerch grober a feine Bewegung, fein Upassung Wäert: 0.002mm; Schlag (vum Fokus vun der Bühnfläch): 30mm. Grober Bewegung an d'Spannung opkbar, mat Spär an Limitapparat	·
D'Bühn	Duebelschicht mechanesch mobil Typ (Gréisst: 180mmx150mm, beweegteg Range: 15mmX15mm)	·
Lighting System	6v 20w Halogen Liicht, upassen	·
Polarizing Accessoiren	Analyzergrupp, Polarizer Grupp	O
Faarfsfilter	Giel Filter, gréng Filter, blo Filter	·
Metallografesche Analyse System	JX2016metallalographesch Analyse Software, 3 Millioun Kamera Gerät, 0,5X Adapter Lens Interface, Mikrometer	·
PC	HP Business Computer	O

Notiz: "· "Ass Standard Konfiguratioun;"O "ass fakultativ

JX5016TADA COMPLETLografesch Bildanalyse Software

De "professionellte méigleche Probenatloseschwaggeld. D'Software integréiert haut ass fortgeschratt Bild Analysentechnologie, wat ass déi perfekt Kombinatioun vu Metallographic Mikroskopologie an Intelligologie. DL / DJ / ASTM, etc.). De System huet all Chinesesch Interafruppen, wéi kämpfe kloer an einfach ze bedrohten. No einfachen Training oder bezitt sech op d'Instruktiounshandal, Dir kënnt et fräi bedreiwen. An et bitt eng séier Method fir ze léieren Metalographie gesonde Mënscheverstand a populärer Operatiounen.

JX2016 Metalografesch Bildanalyse Software Funktiounen

Bild änneren Software: méi wéi zéng Funktiounen wéi Bild Acquisitioun a Bildlagerung;

Bild Software: méi wéi zéng Funktiounen wéi Image Erweiderung, Bild iwwerlay, etc.;

Bildmiessungssoftware: Dosende vu Messung Funktiounen wéi Perimeter, Gebitt, a Prozentsaz Inhalt;

Ägeput Modus: Daten Table Output, Histogram Ausgang, Bild Printput.

Eng gewëssen Metalografesch Software

Grafgréisstmiessung a Bewäertung (Griewer Grenz Extraktioun, grain Grenzkräuschung, eenzeg Phas, Dual Phas, Kaddréchmiessung)

Miess a Bewäertung vun net metallen Inklusiounen (inklusiv silfides, oxides, sektizéiert, asw.);

Pearpite an Ferrit Inhaltsmiessung a Bewäertung; ductile Iron Grafit Nodularitéitsmiessung a Bewäertung;

Decarburriktiséierungsschicht, carburiséiert Schichtmiessung, Uewerfläch Beschichtung Déckerung;

Weld Déiftmiessung;

Phas-Regioun Messung vun der fersteritescher Edelsteng;

Analyse vum primäre Silicon an eutktesche Silizon vu héije Silicon Aluminium Locary;

Titan Allovery Material Analyse ... etc;

Enthält Metallfrahagesch ATLASS vu bal 600 gemeinsam benotzt Metalmaterialien fir Verglach, d'Ufuerderunge vu Metallographie an der Inspektioun vun de meeschte Eenheeten ze treffen;

Wann d'weider Erhéijung vun neie Produkter ausgewielt sinn, Material a gewëllt net opginn, déi an der Softwaren organiséieren gesinn an der Softwaren déi Iech aginn, kënnen an d'Softwaren am Softwarder ginn.