1. Integréiert Design vun optescher Metal metografesche Mikroskope an Atombe Microskope, mächteg Funktiounen
2. Et huet souwuel optesch Mikroskope an Atomkraaft Microskopfunktioun Funktiounen, souwuel déi béid kënne maachen ouni sech selwer ze schaffen
3. Kann an engem normale Loftfeld schaffen, flësseg Ëmfeld, Temperaturkonft Ëmfeld an inertegend Overing Ëmfeld zur selwechter Zäit
4. De Probe Scannen Dësch an de Laser Detection Cheat ass an engem zouenen Typ entworf, an de Special Gas ass ausgefëllt ginn, ouni e Seegel Cover ze ginn
5. De Laser Detection andoptéiert e vertikale optesche Wee Design, a kann ënner Flëssegkeet mat der Flëssegkeet mat der flësseger debuterbenotzer Halder
6. Déi eenzeg Achs Drive Proufe passend automatesch de Sond vertikal, sou datt den Tipp vum Nadel scoled scoled op de Probe
7. Déi intelligent Bedierfnesser vun der motorescher kontrolléierter presséierter piezorcterer Keramiker Automatesch Detection schützt de Sonde an der Probe
8. Ultra-héich Vergréisserung optesch Positiounssystem fir präzis Positionéierung vun der Sonde an Proben Scaning Regioun ze erreechen
9. Integréiert Scanner nonlinear Korrektioun Benotzer Editeur, Nanometer Charakteriséierung a Messung Genauegkeet besser wéi 98%
Spezifikatioune:
| Betrement Modus | Touch Mode, Tap Mode |
| FEDert de fositiounsbicht | Reibung / Lateral Kraaft, Amplitude / Phas, magnetesch / elektrostatesch Kraaft |
| forcéieren Spektrum Curve | Fz Force Curve, RMS-Z Curve |
| Xy Scan Gamme | 50 * 50um, fakultativ 20 * 20 Auer 100 * 100um |
| Z Scan Ralette | 5um, fakultativ 2um, 10um |
| Sankt Léis | Horizontal 0.2nm, vertikal 0,05nm |
| Proufgrouss | Φ**68mm, H≤20mm |
| Probe Stage Rees | 25 * 25mm |
| Optesch Äddi | 10x |
| Optesch Zil | 5x / 10x / 20x / 50x plangen Apolitesch Ziler |
| Beliichtungsmethod | L kohler Liichtverschmotzung |
| Optesch Fokus | Rau manuell Fokus |
| Kamera | 5mp cmos Sensor |
| Füügt dodeld | 10.1 Zoll flaach Panel Display mat Grafikfäegkeet Funktioun |
| Heizungsausrüstung | Temperaturkontrollbereich: Raumtemperatur ~ 250 ℃ (fakultativ) |
| Waarm a kal integréiert Plattform | Temperaturkontroll Gamme: -20 ℃ ~ 220 ℃ (fakultativ) |
| Scort-Speed | 0.6hz-30hz |
| Scan Wénkel | 0-360 ° |
| Verbroen | Windows XP / 7/8/10 Betribssystem |
| Kommunikatioun Interface | USB2.0 / 3.0 |
