1. Integréiert Design vum opteschen metallographesche Mikroskop an Atomkraaftmikroskop, mächteg Funktiounen
2. Et huet souwuel optesch Mikroskop an Atomkraaftmikroskop Imaging Funktiounen, déi allebéid gläichzäiteg funktionnéieren ouni sech géigesäiteg ze beaflossen
3. Kann an der selweschter Loftëmfeld, Flëssegkeetsëmfeld, Temperaturkontrollëmfeld an Inertgas Kontrollëmfeld zur selwechter Zäit schaffen
4. D'Prouf Scannen Dësch an de Laser Detectioun Kapp sinn an engem zouenen Typ entworf, a speziell Gas kann bannen gefëllt an entlooss ginn, ouni e Dichtungsdeckel derbäi.
5. D'Laser Detektioun adoptéiert e vertikalen opteschen Wee Design, a kann ënner Flëssegkeet mam Gas-Flësseg Dual-Zweck Sondehalter schaffen
6. D'Single-Achs Drive Probe kënnt automatesch op d'Sonde vertikal, sou datt den Tipp vun der Nadel senkrecht op d'Probe gescannt gëtt
7. Déi intelligent Nadelfütterungsmethod vun der motorkontrolléierter presséierter piezoelektrescher Keramik automatesch Detektioun schützt d'Sond an d'Probe
8. Ultra-héich Vergréisserung opteschen Positionéierungssystem fir präzis Positionéierung vun der Sonde a Probe Scannengebitt z'erreechen
9. Integréiert Scanner net-linear Korrektur Benotzer Editor, Nanometer Charakteriséierung a Miessgenauegkeet besser wéi 98%
Spezifikatioune:
| Operatiounsmodus | Touch Modus, Tap Modus |
| Optional Modus | Reiwung / Lateral Kraaft, Amplitude / Phase, Magnéitfeld / Elektrostatesch Kraaft |
| Kraaftspektrumkurve | FZ Kraaftkurve, RMS-Z Kurve |
| XY Scan Beräich | 50*50um, fakultativ 20*20um, 100*100um |
| Z Scan Beräich | 5um, fakultativ 2um, 10um |
| Scan Resolutioun | Horizontal 0.2nm, Vertikal 0.05nm |
| Prouf Gréisst | Φ≤68mm, H≤20mm |
| Prouf Etapp Rees | 25 * 25 mm |
| Optesch Okular | 10 x |
| Optesch Objektiv | 5X / 10X / 20X / 50X Plan Apochromatesch Ziler |
| Beliichtung Method | LE Kohler Beliichtung System |
| Optesch konzentréieren | Rau manuell Fokus |
| Kamera | 5MP CMOS Sensor |
| affichéieren | 10,1 Zoll flaach Panel Display mat grafesch Zesummenhang Miessfunktioun |
| Heizung Equipement | Temperaturkontrollbereich: Raumtemperatur ~ 250 ℃ (optional) |
| Waarm a kal integréiert Plattform | Temperaturkontrollbereich: -20 ℃ ~ 220 ℃ (optional) |
| Scan Vitesse | 0.6Hz-30Hz |
| Scan Wénkel | 0-360° |
| Betribssystemer Ëmfeld | Windows XP/7/8/10 Betribssystem |
| Kommunikatioun Interface | USB 2.0/3.0 |
